STATION MICROMESURE

Capteur point de mesure sans contact

La Micromesure est une station de mesure modulaire dédiée à la micropotopographie 3D haute résolution ainsi qu'à l'analyse de formes et de textures.

Elle permet de mesurer des profils ou des surfaces d'objets, ainsi que des épaisseurs de matériaux transparents.

La station est composée de:

Une unité Microstep, comprenant 3 axes motorisés X, Y, et Z, un ou plusieurs capteurs CCS équipés avec différents outils de mesure, une ou plusieurs caméras vidéo et en option un système permettant de changer automatiquement d'outil de mesure.

Une unité de contrôle comprenant un ordinateur PC équipé de plusieurs cartes spécifiques

Un logiciel d'acquisition de données SurfaceMap (développé par STIL) qui permet de piloter la station via une interface homme-machine.

Un logiciel de post-traitement SPIP TM (développé par Image Metrology)

ETAT DE SURFACE

EPAISSEUR

DISTANCE

PLANEITE

DEPLACEMENT

Avantages :

Le système MICROMESURE 2, équipé CCS-Prima, Optima +, STIL-DUO ou capteurs SPS Alpha est l'outil idéal pour la mesure de la surface sans contact, y compris pour la rugosité 3D, la métrologiede forme et la microtopographie 3D.

Le système MICROMESURE 2 exploite pleinement les performances extraordinaires des capteurs sans contact de STIL dans divers applications et domaines.

Livré avec le matériel de contrôle d'acquisition et les logiciels nécessaires, le système MICROMESURE 2 est une "clé en main" ayant un dispositif immédiatement opérationnel après son installation.

Avantages :

Grâce au capteurs Confocal Chromatique

  • Mesure dimentionnelle sans contact
  • Résolution nanométrique et micrométrique
  • Capteur de lumière blanche
  • Mesure coaxiale
  • Pistes locales élevées sur surfaces spéculaires réfléchissantes
  • Insensible à la lumière ambiante
  • Mesurer sur le métal, le verre, semi-conducteur, la céramique et plus
  • Mesure d'épaisseur et de forme et d'objet transparent
  • Large plages de mesure (à partir de 20 µm à 24 mm)

Grâce à un système de balayage de haute qualité

  • 0,1 um encodeur sur l'axe Z (produit de la série)
  • 0,1 um encodeurs sur X & Y axes (en option)
  • Faibles vibrations
  • Orthgonality et planéité corrections
  • Boîtier transparent pour éviter air-turbulences

MICROMESURE 2 avec un capteur MPLS180 ligne

Axes : X & Y Axes : Y

Configuration

3M - 1R3M - 3R3M-1R & 3M-3R

Courses

100 mm100mm50 mm

Encodeur

NoYesYes

Précision de position

10µm / 1 mm1µm / 100mm1µm / 100mm

Résolution de position

0.1µm0.1µm0.1µm

Planéité

1µm / 1 mm1µm / 100mm1µm / 100mm

Vitesse Max

20mm / s20mm / s5mm / s

Types d'application :

  • Analyse de forme et de texture
  • Fin de l'inspection mécanique
  • Caractérisation de la surface
  • L'altitude de la 3D et de la topographie épaisseur / profilométrie
  • Mesure de rugosité
  • Métrologie dimensionnelle

Domaines d'applications :

  • Industrie du verre (Contrôle d'épaisseur de la ligne de verre flotté, métrologie 3D ...)
  • Microelectronics (rugosité, métrologie 3D, analyse de défauts...)
  • Optique (rugosité, métrologie 3D ...)
  • Horlogerie (planéité, rugosité, épaisseur ...)
  • Industrie du combustible nucléaire (rugosité, tribologie, 3D métrologie, analyse de la corrosion ...)
  • Aéronautique (rugosité, forme de la turbine)

Options :

  • Logiciel de post-traitement: SPIP d'Image Metrology
  • encodeurs linéaires sur X & Y axes pour la 3D métrologie (position de précision = (1 um / 100 mm)
  • Caméra vidéo
  • Tourelle simple ou double tourelle support des crayons optiques
  • Support d'amortissement des vibrations
  • configurations 1 axe et 2 axes (1)
  • X & Y se déplacent jusqu'à 300 mm (2)
  • Voyage Z jusqu'à 100 mm (2)

Artefacts de métrologie

  • Calibration rainure (profondeur = 10 pm)
  • Norme Roughness (Ra = 0,8 um)
  • optique plat (diamètre = 140 mm)
  • réticule Offset (pour régler la caméra vidéo offset)

Logiciel pour Micromesure 2

Logiciel de contrôle et d'acquisition surface Crée par STIL

Logiciel de contrôle & d'acquisition Surface Map
Fonctions principales
Type d'acquisitionBalayage de profil (x, y, oblique)
Balayage de la surface
Acquisition points
Mesure répétitive
Séquence multi-acquisition
image vidéo (option de la caméra)
Réglage des paramètres de numérisationDimensions
Longueur de chaque axe
Réglage des paramètres du capteurMode altitude
Mode épaisseur
Choix du crayon optique
Moyenne
Double fréquence (si disponible)
Type de balayageVitesse constante (aller-retour)
Pas à pas
Suivant Z
Sauvegarde des donnéesSélection de dossier
Sélection de format (binaire, csv)
Supervision de l'utilisateurProgrès de mesure
Coordonnées X, Y et Z
Etat du capteur
Procédures automatiquesMatériel de guidage
Aplanissement
Autofocus
Recentrage
Aperçu

Logiciel de post traitement SPIP par Image Métrology

SPIP post traitement
fonctions principales
Version
4 Modules
Version
8 Modules
Modules de basecorrection planéité / aplatissementOuiOui
Section transversale et profilageOuiOui
Altitude d'histogrammeOuiOui
Transformée de FourierOuiOui
Fonctions de corrélationOuiOui
Soustraction d'image et l'additionOuiOui
Code couleursOuiOui
ZoomOuiOui
Transformation : miroirs, rotationsOuiOui
Plug-in InterfaceOuiOui
Copier, imprimer et sauvegarder les fonctionsOuiOui
Analyse de rugosité (ISO 25178 + ANSI B46.1)OuiOui
Studio visualisation 3DOuiOui
Filtre de moduleOuiOui
Analyse de Fourier étendueOui
Analyse des grainsOui
Traitement par lotsOui
Explorateur ImageMetOui

MENTIONS LEGALES

COPYRIGHT © 2017 . STIL - ALL RIGHT RESERVED

Domaine Saint Hilaire, 595 Rue Pierre Berthier, 13855 Aix-en-Provence cedex 3 - +33 (0)4 42 39 66 51

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